手機(ji)環境與(yu)可靠性(xing)測試，🈲黄色一级A片🏃‍♂️全(quan)部在這(zhe)裏了

  爲了(le)提升手(shou)機産品(pin)可靠性(xing)能力，各(ge)個企業(ye)投入了(le)巨大的(de)努力，從(cong)産品設(she)計開發(fa)到生産(chan)各個環(huan)節，都在(zai)緻力于(yu)💜提高産(chan)品可靠(kao)🏃性。

 

  了解了(le)産品的(de)一般結(jie)構之後(hou)，在開始(shi)結構設(she)計之💋前(qian)，需要清(qing)🛀楚地知(zhi)道産品(pin)要達到(dao)上市的(de)要求需(xu)要通過(guo)哪些測(ce)試，達到(dao)什麽樣(yang)的标準(zhun)。

 

  産(chan)品可靠(kao)性測試(shi) (PRT) 的(de)目的是(shi)在特定(ding)的可接(jie)受的環(huan)境下不(bu)斷的催(cui)化産品(pin)的🚶壽命(ming)和疲勞(lao)度，可以(yi)在早期(qi)預測和(he)評估産(chan)品的質(zhi)量和可(ke)靠性。産(chan)品🏃‍♂️結構(gou)設計工(gong)程師必(bi)須通曉(xiao)可靠性(xing)測試的(de)所有🛀标(biao)準，在設(she)計階段(duan)就必須(xu)采取正(zheng)确的設(she)計和選(xuan)擇合适(shi)的材料(liao)來避免(mian)後續産(chan)👣品的質(zhi)量和可(ke) 靠(kao)性問題(ti)。産品必(bi)須經過(guo)國家的(de)可靠性(xing)測試，而(er)且越來(lai)越嚴格(ge)，要求也(ye)越來越(yue)高，這就(jiu)對我們(men)的設計(ji)提出了(le)更高的(de)要求。

  首先(xian)了解一(yi)下可靠(kao)性影響(xiang)因素 , 影響(xiang)産品可(ke)靠性的(de)極其重(zhong)要的因(yin)素是環(huan)境。

 

  環境因(yin)素多種(zhong)多樣：溫(wen)度、濕度(du)、壓力、輻(fu)射、降雨(yu)、風、雷、電(dian)✌️、鹽霧、砂(sha)💰塵、振動(dong)、沖擊、噪(zao)聲、電磁(ci)輻射等(deng)，都不可(ke)避免地(di)☀️對電㊙️子(zi)産品産(chan)生不🈚良(liang)影響。有(you)資料顯(xian)示，電子(zi)☁️産品故(gu)障的 52% 失效(xiao)是由環(huan)境效應(ying)引起：其(qi)中由溫(wen)度引起(qi)的占 40% ，由振(zhen)動引起(qi)的占 27% ，由濕(shi)度引起(qi)的占 19% ，其餘(yu) 14% 是(shi)砂塵、鹽(yan)霧等因(yin)素引發(fa)的故障(zhang)。環境試(shi)驗作爲(wei)可靠✉️性(xing)試驗的(de)🐆一種類(lei)型已經(jing)發展成(cheng)爲一種(zhong)預測産(chan)品使用(yong)環境是(shi)⁉️如何☁️影(ying)響産品(pin)的性能(neng)和功能(neng)的方法(fa)。

 

  在(zai)手機投(tou)入市場(chang)之前，環(huan)境試驗(yan)被用來(lai)評估環(huan)境影⚽響(xiang)⭐手機的(de)程度，當(dang)手機的(de)功能受(shou)到了影(ying)響，環境(jing)試驗被(bei)用來查(cha)明原因(yin)，并采取(qu)措施保(bao)護手機(ji)免受環(huan)境影響(xiang)以保護(hu)手機的(de)可靠性(xing)，環境試(shi)驗也被(bei)用來分(fen)析手✏️機(ji)在實際(ji)使用過(guo)程中出(chu)現的缺(que)陷以及(ji)新産品(pin)的改🔱進(jin)。

  嚴格(ge)意義上(shang)講，隻有(you)通過了(le)環境适(shi)應性試(shi)驗，滿足(zu)✨規🥵定的(de)條件，才(cai)能進行(hang)可靠性(xing)試驗，環(huan)境适應(ying)性試驗(yan)對于保(bao)證手機(ji)的可靠(kao)性是非(fei)常有效(xiao)的。 手機環(huan)境與可(ke)靠性測(ce)試包括(kuo)六個部(bu)分：加速(su)壽命測(ce)🚶‍♀️試、氣🈲候(hou)适應測(ce)試、結構(gou)耐久測(ce)試、表面(mian)裝飾測(ce)試、特殊(shu)條件🔱測(ce)試，及其(qi)他條件(jian)測試。  

1.1. 加速(su)壽命測(ce)試 ALT (AcceleratedLife Test)
　　樣機标(biao)準數量(liang)： PR1 ： 8 台 PR2 ： 10 台 PR3 ： 10 台(tai) PIR ： 10 台
　　試驗(yan)周期： 11-27 天
　　測試(shi)目的： 通過(guo)連續的(de)施加各(ge)種測試(shi)條件，加(jia)速産品(pin)的失效(xiao)，提前暴(bao)露潛在(zai)問題。
　　試驗(yan)流程： 其中(zhong) Thermal Shock 和(he) 1st Drop 測(ce)試的時(shi)間間隔(ge)應不超(chao)過 4 小時 ;Temp/Humidity 和 2nd Drop 測試(shi)的時間(jian)間隔應(ying)不超過(guo) 4 小(xiao)時。每項(xiang)測試完(wan)成都應(ying)進行表(biao)面，外觀(guan)，結構和(he)功能檢(jian)查。
　　測試标(biao)準：參數(shu)指标正(zheng)常，功能(neng)正常。
 
1.1.1 室溫(wen)下參數(shu)測試 (ParametricTest)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)： 測(ce)試預檢(jian)查
　　測試方(fang)法：使用(yong) 8960/8922 測(ce)試儀，對(dui)所有樣(yang)品進行(hang)參數指(zhi)标預測(ce)試并保(bao)存測試(shi)結果。
　　測試(shi)标準：參(can)數指标(biao)正常，功(gong)能正常(chang)。
 
1.1.2 溫(wen)度沖擊(ji)測試 (Thermal Shock)
　　測試(shi)環境：低(di)溫箱： -30 ° C ; 高溫箱(xiang)： +10 ° C
　　測試(shi)目的：通(tong)過高低(di)溫沖擊(ji)進行樣(yang)品應力(li)篩選
　　試驗(yan)方法：使(shi)用高低(di)溫沖擊(ji)箱，手機(ji)帶電池(chi)，設置成(cheng)關機狀(zhuang)态先放(fang)置于高(gao)溫箱内(nei)持續 45 分鍾(zhong)後，在 15 秒内(nei)迅速移(yi)入低溫(wen)箱并持(chi)續 45 分鍾後(hou)，再 15 秒内迅(xun)速回到(dao)高溫箱(xiang)。此爲一(yi)個循環(huan)，共循環(huan) 21 次(ci)。實驗結(jie)束後将(jiang)樣機從(cong)溫度沖(chong)擊箱 ( 高溫(wen)箱 ) 中取出(chu)，恢複 2 小時(shi)後進行(hang)外 觀、機械(xie)和電性(xing)能檢查(cha)。對于翻(fan)蓋手機(ji)，應将一(yi)半樣品(pin)打開翻(fan)蓋 ; 對于滑(hua)蓋手機(ji)，應将一(yi)半樣品(pin)滑開到(dao)上限位(wei)置。
　　試驗标(biao)準：手機(ji)表面噴(pen)塗無異(yi)變，結構(gou)無異常(chang)，功能正(zheng)常，可正(zheng)常撥打(da)電話。
 
1.1.3 跌落(luo)試驗 (Drop Test)
　　測試(shi)條件： 1.5m 高度(du)， 20mm 厚(hou)大理石(shi)地闆。 ( 對于(yu) PDA 手(shou)機 , 根據所(suo)屬公司(si)質量部(bu)門的建(jian)議可調(diao)整爲跌(die)落高度(du)爲 1.3m)
　　測試目(mu)的： 跌落沖(chong)擊試驗(yan)
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)處于開(kai)機狀态(tai)進行跌(die)落。對于(yu)直握手(shou)機，進🐅行(hang) 6 個(ge)面的自(zi)由跌落(luo)實驗，每(mei)個面的(de)跌落次(ci)數爲 1 次，每(mei)個面跌(die)落之後(hou)進行外(wai)觀、結構(gou)和功能(neng)檢查。對(dui)🏃于翻⭕蓋(gai)❄️手機，進(jin)行 8 個面的(de)自由跌(die)落實驗(yan) ; 其(qi)中一半(ban)樣品合(he)上翻蓋(gai)按直握(wo)手機的(de)方法進(jin)行跌落(luo)，另一半(ban)樣 品在跌(die)正面和(he)背面時(shi)須打開(kai)翻蓋 ; 對于(yu)滑蓋手(shou)機，應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。跌(die)落☀️結束(shu)後對外(wai)觀、結構(gou)和功能(neng)進行檢(jian)查。
　　試驗标(biao)準：手機(ji)外觀，結(jie)構和功(gong)能符合(he)要求。
 
1.1.4 振動(dong)試驗 (Vibration Test)
　　測試(shi)條件：振(zhen)幅： 0.38mm/ 振頻： 10~30Hz; 振幅(fu)： 0.19mm/ 振(zhen)頻： 30~55Hz;
　　測試目(mu)的： 測試樣(yang)機抗振(zhen)性能
　　試驗(yan)方法：将(jiang)手機開(kai)機放入(ru)振動箱(xiang)内固定(ding)夾緊。啓(qi)動振動(dong)♉台按 X 、 Y 、 Z 三(san)個軸向(xiang)分别振(zhen)動 1 個小時(shi)，每個軸(zhou)振完之(zhi)後取出(chu)進行外(wai)觀、結構(gou)和功能(neng)檢查。三(san)個軸向(xiang)振動試(shi)驗結束(shu)後，對樣(yang)機進行(hang)參數測(ce)試。
　　試驗标(biao)準：振動(dong)後手機(ji)内存和(he)設置沒(mei)有丢失(shi)現象，手(shou)🏃🏻‍♂️機外觀(guan)，結🐉構和(he)功能符(fu)合要求(qiu)，參數測(ce)試正常(chang)，晃動無(wu)異響。
 
1.1.5 濕熱(re)試驗 (Humidity Test)
　　測試(shi)環境： 60 ° C ， 95%RH
　　測(ce)試目的(de)： 測(ce)試樣機(ji)耐高溫(wen)高濕性(xing)能
　　試驗方(fang)法：将手(shou)機處于(yu)關機狀(zhuang)态，放入(ru)溫濕度(du)實驗箱(xiang)内的架(jia)子上，持(chi)續 60 個小時(shi)之後取(qu)出，常溫(wen)恢複 2 小時(shi)，然後進(jin)行外觀(guan)、結構和(he)功能檢(jian)查。對于(yu)翻蓋手(shou)機，應将(jiang)🔞一半樣(yang)品合上(shang)翻蓋，一(yi)半樣品(pin)打開翻(fan)蓋 ; 對于滑(hua)蓋手機(ji)，應将一(yi)半樣品(pin)滑開到(dao)上限位(wei)置。
　　試驗标(biao)準：手機(ji)外觀，結(jie)構和功(gong)能符合(he)要求。
 
1.1.6 靜電(dian)測試 (ESD)
　　測試(shi)條件： +/-4kV~+/-8kV 。
　　測試目(mu)的： 測試樣(yang)機抗靜(jing)電幹擾(rao)性能
　　試驗(yan)方法：
　　将樣(yang)機設置(zhi)爲開機(ji)狀态，檢(jian)查樣機(ji)内存和(he)功能。 ( 内存(cun) 10 條(tiao)短信息(xi)和 10 個電話(hua)号碼 ; 使用(yong)功能正(zheng)常 ) 。将樣機(ji)放于靜(jing)電測試(shi)台的絕(jue)緣墊上(shang)，并且用(yong)充電器(qi)加電使(shi)🏃‍♀️手機處(chu)于充電(dian)狀态 ( 樣機(ji)與絕緣(yuan)墊邊緣(yuan)距離至(zhi)少 2 英寸 ; 兩個(ge)樣機之(zhi)間的距(ju)離也是(shi)至少 2 英寸(cun) ) 。 打開(kai)靜電模(mo)拟器，調(diao)節放電(dian)方式，分(fen)别選擇(ze) +/-4kV( 接(jie)觸放電(dian) ) ， ~+/-8kV( 空氣(qi)放電 ) ，對手(shou)機指定(ding)部位連(lian)續放電(dian) 10 次(ci)，并對地(di)放電。每(mei)做完一(yi)個部位(wei)的測試(shi)，檢查手(shou)機功能(neng)、信号和(he)靈敏度(du)，并觀察(cha)手機在(zai)測試過(guo)程中有(you)無死機(ji)，通信鏈(lian)路中斷(duan)， LCD 顯(xian)示異常(chang)，自動關(guan)機 及其他(ta)異常現(xian)象。
　　樣機需(xu)在與 8922 測試(shi)儀建立(li)起呼叫(jiao)連接的(de)狀态下(xia)進行各(ge)個放電(dian)方式♈、級(ji)别🔴和極(ji)性的測(ce)試。
　　試驗标(biao)準：在 +/-4Kv 和 +/-8Kv 時出(chu)現任何(he)問題都(dou)要被計(ji)爲故障(zhang)。
　　備(bei)注：靜電(dian)釋放位(wei)置的确(que)定要依(yi)據産品(pin)的具體(ti)情況進(jin)行定義(yi)。  

1.2. 氣(qi)候适應(ying)性測試(shi) (ClimaticStress Test)
　　樣(yang)品标準(zhun)數量：一(yi)般氣候(hou)性測試(shi) 4 台(tai) ; 惡(e)劣氣候(hou)性測試(shi) 2 台(tai)。共 8 台。
　　測試周(zhou)期： 1 天。
　　測試目(mu)的： 模拟實(shi)際工作(zuo)環境對(dui)産品進(jin)行性能(neng)測試
　　一般(ban)氣候性(xing)測試 惡劣(lie)氣候性(xing)測試
 
A ： 一般氣(qi)候性測(ce)試：
1.2.1. 高溫 / 低溫(wen)參數測(ce)試 (ParametricTest)
　　測試環(huan)境： -10 ° C /+55 ° C
　　測試(shi)目的：高(gao)溫 / 低溫應(ying)用性性(xing)能測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)電池充(chong)滿電，手(shou)機處于(yu)開機狀(zhuang)态，放入(ru)溫度實(shi)♻️驗箱内(nei)的架子(zi)上，調節(jie)溫度控(kong)制器到(dao)🔱 -10 ° C /+55 ° C 。持續 2 個小(xiao)時之後(hou)在此環(huan)境下進(jin)行電性(xing)能參數(shu)和功能(neng)檢查。對(dui)于翻蓋(gai)手機，應(ying)将一半(ban)樣品合(he)上翻蓋(gai)，一半樣(yang)品打開(kai)翻蓋❤️ ; 對于(yu)滑蓋手(shou)機，應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。
　　試驗(yan)标準：手(shou)機電性(xing)能參數(shu)指标滿(man)足要求(qiu)，功能正(zheng)👣常🏃‍♀️，外殼(ke)無變形(xing)。
　　測(ce)試環境(jing)： +45 ° C ， 95%RH
　　測試目(mu)的：高溫(wen)高濕應(ying)用性性(xing)能測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)電池充(chong)滿電，手(shou)機處于(yu)開機狀(zhuang)态☎️，放入(ru)溫度實(shi)驗箱内(nei)的架子(zi)上。持續(xu) 48 個(ge)小時之(zhi)後，然後(hou)在此環(huan)境下進(jin)行電性(xing)能檢查(cha)，檢🍓查項(xiang)目見附(fu)表 1 。對于翻(fan)蓋手機(ji)，應将一(yi)半樣品(pin)合上翻(fan)蓋，一半(ban)樣品打(da)開翻蓋(gai) ; 對(dui)于滑蓋(gai)手機，應(ying)将一半(ban)樣品滑(hua)開到上(shang)限位置(zhi)。
　　試(shi)驗标準(zhun)：手機電(dian)性能指(zhi)标滿足(zu)要求，功(gong)能正常(chang)，外🐉殼無(wu)變形。
 
1.2.3. 高溫(wen) / 低(di)溫功能(neng)測試 (FunctionalTest)
　　測試(shi)環境： -40 ° C /+10 ° C
　　測(ce)試目的(de)：高溫 / 低溫(wen)應用性(xing)功能測(ce)試
　　試驗方(fang)法：将手(shou)機處于(yu)關機狀(zhuang)态，放入(ru)溫度實(shi)驗箱内(nei)的架子(zi)上💃🏻。持續(xu) 24 個(ge)小時之(zhi)後，取出(chu)，并放置(zhi) 2 小(xiao)時，恢複(fu)至常溫(wen)，然後進(jin)行結構(gou)，功能和(he)電性能(neng)檢查。對(dui)于翻蓋(gai)手機，應(ying)将一半(ban)樣品合(he)上翻蓋(gai)，一半樣(yang)品打開(kai)翻❄️蓋 ; 對于(yu)滑蓋手(shou)機，應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。
　　試驗(yan)标準：手(shou)機電性(xing)能指标(biao)滿足要(yao)求，功能(neng)正常，外(wai)殼無📱變(bian)🏃🏻‍♂️形。
 
B ：惡劣氣(qi)候性測(ce)試
1.2.4. 灰塵測(ce)試 (Dust Test)
　　測試環(huan)境：室溫(wen)
　　測(ce)試目的(de)：測試樣(yang)機結構(gou)密閉性(xing)
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)關機放(fang)入灰塵(chen)實驗箱(xiang)内。灰塵(chen)大小 300 目，持(chi)續 3 個小時(shi)之後，将(jiang)手機從(cong)實驗箱(xiang)中取出(chu)，用棉布(bu)和離子(zi)🐕風槍清(qing)✔️潔後進(jin)行檢查(cha)。對于翻(fan)蓋手機(ji)，應将一(yi)半樣品(pin)合上翻(fan)蓋💜，一半(ban)樣品🐇打(da)開翻蓋(gai) ; 對(dui)于滑蓋(gai)手機，應(ying)将一半(ban)樣品滑(hua)開到上(shang)限位置(zhi)。
　　試(shi)驗标準(zhun)：手機各(ge)項功能(neng)正常，所(suo)有活動(dong)元器件(jian)運轉自(zi)如💃，顯示(shi)區域沒(mei)有明顯(xian)灰塵。
 
1.2.5. 鹽霧(wu)測試 (Salt fog Test)
　　測試(shi)環境： 35 ° C
　　測試目(mu)的：測試(shi)樣機抗(kang)鹽霧腐(fu)蝕能力(li)
　　試(shi)驗方法(fa)：
　　溶(rong)液含量(liang)： 5% 的(de)氯化鈉(na)溶液。
　　将手(shou)機關機(ji)放在鹽(yan)霧試驗(yan)箱内，合(he)上翻蓋(gai)，樣機用(yong)繩子懸(xuan)挂起來(lai)，以免溶(rong)液噴灑(sa)不均或(huo)有的表(biao)面噴不(bu)到。
　　樣機需(xu)要立即(ji)被放入(ru)測試箱(xiang)。實驗周(zhou)期是 48 個小(xiao)時。實驗(yan)過程中(zhong)樣機不(bu)得被中(zhong)途取出(chu)，如果急(ji)需取出(chu)測試，要(yao)嚴格記(ji)錄測試(shi)時間，該(gai)實驗需(xu)向後延(yan)遲相同(tong)時間🚩。
　　取出(chu)樣機後(hou)，用棉布(bu)和離子(zi)風槍清(qing)潔，放置(zhi) 48 小(xiao)時進行(hang)常溫幹(gan)燥後，對(dui)其進行(hang)外觀、機(ji)械和電(dian)性能檢(jian)查。
　　試驗标(biao)準：手機(ji)各項功(gong)能正常(chang)，外殼表(biao)面及裝(zhuang)飾件無(wu)明顯腐(fu)蝕等異(yi)常現象(xiang)。
 
1.3. 結(jie)構耐久(jiu)測試 (MechanicalEndurance Test)
　　樣品(pin)标準數(shu)量： 11 台。
　　測試周(zhou)期： 1 天。
　　測試流(liu)程：
　　測試标(biao)準：
 
1.3.1. 按鍵測(ce)試 (Keypad Test)
　　測試環(huan)境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：按(an)鍵壽命(ming)測試
　　測試(shi)數量： 2 台手(shou)機。
　　測試方(fang)法：将手(shou)機設置(zhi)成關機(ji)狀态固(gu)定在測(ce)試夾具(ju)上，導航(hang)鍵及其(qi)他任意(yi)鍵進行(hang) 10 萬(wan)次按壓(ya)按鍵測(ce)試。進行(hang)到 3 萬次、 5 萬次(ci)、 8 萬(wan)次、 10 萬次時(shi)各檢查(cha)手機按(an)鍵彈性(xing)及功能(neng)一次。實(shi)驗中被(bei)測試的(de)鍵的選(xuan)擇根據(ju)不同機(ji)型進行(hang)确定并(bing)參考工(gong)♻️程師的(de)建議，應(ying)盡量不(bu)重複，盡(jin)可能多(duo)。
　　試(shi)驗标準(zhun)：手機按(an)鍵彈性(xing)及功能(neng)正常。
 
1.3.2. 側鍵(jian)測試 (Side Key Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：側鍵壽(shou)命測試(shi)
　　測(ce)試數量(liang)： 1 台(tai)手機
　　測試(shi)方法：将(jiang)手機設(she)置成關(guan)機狀态(tai)固定在(zai)測試夾(jia)具上，對(dui)側鍵進(jin)行 10 萬次按(an)壓按鍵(jian)測試。進(jin)行到 3 萬次(ci)、 5 萬(wan)次、 8 萬次、 10 萬次(ci)時各檢(jian)查手機(ji)按鍵彈(dan)性及功(gong)能一次(ci)。
　　試(shi)驗标準(zhun)：手機按(an)鍵彈性(xing)及功能(neng)正常。
 
1.3.3. 翻蓋(gai)測試 (Flip Life Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：翻蓋壽(shou)命測試(shi)
　　測(ce)試數量(liang)： 4 台(tai)手機。
　　測試(shi)方法：将(jiang)手機設(she)置成開(kai)機狀态(tai)，固定在(zai)測試夾(jia)具上，進(jin)行💰 5 萬次開(kai)合翻蓋(gai)測試。進(jin)行到 3 萬次(ci)、 4 萬(wan)次、 4. 5 萬次 、 5 萬次時(shi)進行手(shou)機翻蓋(gai)彈性及(ji)功能一(yi)次。
　　試驗标(biao)準： 5 萬次後(hou)，手機外(wai)觀，結構(gou)，及功能(neng)正常。
 
1.3.4. 滑蓋(gai)測試 (Slide LifeTest)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：滑蓋壽(shou)命測試(shi)
　　測(ce)試數量(liang)： 4 台(tai)手機。
　　測試(shi)方法：将(jiang)手機設(she)置成開(kai)機狀态(tai)，固定在(zai)測試夾(jia)具🔴上，進(jin)行 5 萬次滑(hua)蓋測試(shi)。進行到(dao) 3 萬(wan)次、 4 萬次、 4. 5 萬次(ci) 、 5 萬次(ci)時進行(hang)手機滑(hua)蓋手感(gan)及功能(neng)一次。
　　試驗(yan)标準： 5 萬次(ci)後，手機(ji)外觀，結(jie)構，及功(gong)能正常(chang) , 滑(hua)蓋不能(neng)有松動(dong) ( 建(jian)議 : 垂直手(shou)機時不(bu)能有自(zi)動下滑(hua)的現象(xiang) )
 
1.3.5. 重(zhong)複跌落(luo)測試 (Micro-DropTest)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);1cm 高(gao)度 ,20mmPVC 闆
　　測試目(mu)的：樣機(ji)跌落疲(pi)勞測試(shi)
　　測(ce)試數量(liang)： 2 台(tai)。
　　測(ce)試方法(fa)：手機處(chu)于開機(ji)狀态，做(zuo)手機正(zheng)面及背(bei)面的重(zhong)複跌🏃‍♀️落(luo)📱實驗，每(mei)個面的(de)跌落次(ci)數爲 20,000 次。進(jin)行到 1 萬次(ci)、 1.5 萬(wan)次、 1.8 萬次、 2 萬次(ci)時各檢(jian)查對手(shou)機進行(hang)外觀、機(ji)械和電(dian)性能的(de)中間👈檢(jian)查。
　　測試标(biao)準：手機(ji)各項功(gong)能正常(chang)，外殼無(wu)變形、破(po)裂、掉漆(qi)，顯示屏(ping)無破碎(sui)，晃動無(wu)異響。
 
1.3.6. 充電(dian)器插拔(ba)測試 (Charger Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：充電器(qi)插拔 ] 壽命(ming)測試
　　測試(shi)數量： 2 台手(shou)機。
　　試驗方(fang)法：将充(chong)電器接(jie)上電源(yuan)，連接手(shou)機充電(dian)接口，等(deng)待🚶手機(ji)♊至充電(dian)界面顯(xian)示正常(chang)後，拔除(chu)充電插(cha)頭。在開(kai)機不插(cha)卡狀态(tai)下插拔(ba)充電 3000 次。進(jin)行到 2000 次、 2500 次和(he) 3000 次(ci)時進行(hang)中間 / 結束(shu)檢查一(yi)次。
　　檢驗标(biao)準： I/O 接口無(wu)損壞，焊(han)盤無脫(tuo)落，充電(dian)功能正(zheng)常。無異(yi)常手感(gan)。
 
1.3.7. 筆(bi)插拔測(ce)試 (Stylus Test)
　　測試環(huan)境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：手(shou)機手寫(xie)筆插拔(ba)壽命測(ce)試
　　測試數(shu)量： 2 台手機(ji)。
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)處于開(kai)機狀态(tai)，筆插在(zai)手機筆(bi)插孔内(nei)，然💞後拔(ba)出，反複(fu) 20 ， 000 次。進(jin)行到 1 萬次(ci)、 1 萬(wan) 5 千(qian)次、 1 萬 8 千次、 2 萬次(ci)時檢查(cha)手機筆(bi)插入拔(ba)出結構(gou)功能、外(wai)殼及筆(bi)是否正(zheng)常。
　　檢驗标(biao)準：手機(ji)筆輸入(ru)功能正(zheng)常，插入(ru)拔出結(jie)構功能(neng)、外殼及(ji)筆均正(zheng)常。
 
1.3.8 點擊試(shi)驗 (PointActivation Life Test)
　　試驗條(tiao)件：觸摸(mo)屏測試(shi)儀 ( 接觸墊(nian)尖端半(ban)徑爲 3.15mm; 硬度(du)爲 40deg 的矽樹(shu)脂橡膠(jiao) )
　　測(ce)試目的(de)：觸摸屏(ping)點擊壽(shou)命測試(shi)
　　樣(yang)品數量(liang)： 1 台(tai)
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)設置爲(wei)開機狀(zhuang)态，點擊(ji) LCD 的(de)中心位(wei)置 250,000 次，點擊(ji)力度爲(wei) 250g; 點(dian)擊速度(du)： 2 次(ci) / 秒(miao) ;
　　檢(jian)驗标準(zhun)：不應出(chu)現電性(xing)能不良(liang)現象 ; 表面(mian)不應有(you)損傷
 
1.3.9 劃線(xian)試驗 (Lineation LifeTest)
　　試驗(yan)條件：觸(chu)摸屏測(ce)試儀，直(zhi)徑爲 0.8mm 的塑(su)料手寫(xie)筆或随(sui)機附帶(dai)的手寫(xie)筆
　　測試目(mu)的：觸摸(mo)屏劃線(xian)疲勞測(ce)試
　　樣品數(shu)量： 1 台
　　試驗方(fang)法：将手(shou)機設置(zhi)爲關機(ji)狀态，在(zai)同一位(wei)置劃⭐線(xian)至少🔴 100,000 次，力(li)度爲 250g;
　　滑行(hang)速度： 60mm/ 秒
　　檢驗(yan)标準：不(bu)應出現(xian)電性能(neng)不良現(xian)象 ; 表面不(bu)應有損(sun)傷
 
1.3.10. 電池 / 電池(chi)蓋拆裝(zhuang)測試 (Battery/BatteryCover Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：電池 / 電池(chi)蓋拆裝(zhuang)壽命測(ce)試
　　測試數(shu)量： 2 台。
　　試驗方(fang)法：将電(dian)池 / 電池蓋(gai)反複拆(chai)裝 2000 次。進行(hang)到 1500 次、 1800 次和 2000 次時(shi)檢查手(shou)機及電(dian)池 / 電池蓋(gai)各項功(gong)能、及外(wai)觀是否(fou)正常。
　　檢驗(yan)标準：手(shou)機及電(dian)池卡扣(kou)功能正(zheng)常無變(bian)形，電池(chi)觸片、電(dian)池連接(jie)器應無(wu)下陷、變(bian)形及磨(mo)損的現(xian)象，外觀(guan)無異常(chang)🤩。
 
1.3.11. SIM Card 拆(chai)裝測試(shi) (SIM Card Test)
　　測(ce)試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的： SIM 卡拆裝(zhuang)壽命測(ce)試
　　測試數(shu)量： 2 台手機(ji)。
　　試(shi)驗方法(fa)：插上 SIM 卡，然(ran)後取下(xia) SIM 卡(ka)，再重新(xin)裝上，反(fan)複 1000 次，每插(cha)拔 100 次檢查(cha)開機是(shi)否正常(chang)，讀卡信(xin)息正常(chang)。
　　檢(jian)驗标準(zhun)： SIM 卡(ka)觸片、 SIM 卡推(tui)扭開關(guan)正常，手(shou)機讀卡(ka)功能使(shi)用正常(chang)。
 
1.3.12. 耳(er)機插拔(ba)測試 (Headset Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：耳機插(cha)拔壽命(ming)測試
　　測試(shi)數量： 2 台手(shou)機。
　　試驗方(fang)法：将手(shou)機處于(yu)開機狀(zhuang)态，耳機(ji)插在耳(er)機插孔(kong)🌈内，然後(hou)拔出，反(fan)複 3000 次。進行(hang)到 2000 、 2500 次(ci)和 3000 次時各(ge)檢查一(yi)次。
　　檢驗标(biao)準：實驗(yan)後檢查(cha)耳機插(cha)座無焊(han)接故障(zhang)，耳機插(cha)頭無損(sun)傷，使用(yong)耳機通(tong)話接收(shou)與送話(hua)無雜音(yin) ( 通(tong)話過程(cheng)中轉動(dong)耳機插(cha)頭 ) ，耳機插(cha)入手機(ji)耳機插(cha)孔時不(bu)會松動(dong) ( 可(ke)以承受(shou)得住手(shou)機本身(shen)的重量(liang) ) 。
 
1.3.13. 導線(xian)連接強(qiang)度試驗(yan) (Cable PullingEndurance Test--Draft)
　　測(ce)試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：導線(xian)連接強(qiang)度測試(shi)
　　實(shi)驗方法(fa)：選取靠(kao)近耳塞(sai)的一段(duan)導線，将(jiang)其兩端(duan)固定✔️在(zai)實驗機(ji)上，用 10N ± 1N 的力度(du)持續拉(la)伸 6 秒，循環(huan) 100 次(ci)。 ( 其(qi)它造型(xing)的導線(xian)可采納(na)工程師(shi)的建議(yi)來确定(ding)循🔴環🏃🏻‍♂️次(ci)數♻️ )
　　檢驗标(biao)準：導線(xian)功能正(zheng)常。被覆(fu)外皮不(bu)破裂，變(bian)形。
 
1.3.14. 導線折(she)彎強度(du)試驗 (Cable BendingEndurance Test--Draft)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：導線折(she)彎疲勞(lao)測試
　　實驗(yan)方法：分(fen)别選取(qu)靠近耳(er)塞和靠(kao)近插頭(tou)的一段(duan)導線，将(jiang)導線的(de)兩端固(gu)定在實(shi)驗機上(shang)，做 0mm~25mm 做折彎(wan)實驗 3000 次。 ( 其它(ta)造型的(de)導線可(ke)采納工(gong)程師的(de)建議來(lai)确定循(xun)環次數(shu) )
　　檢(jian)驗标準(zhun)：導線功(gong)能正常(chang)被覆外(wai)皮不破(po)裂，變形(xing)。
 
1.3.15. 導(dao)線擺動(dong)疲勞試(shi)驗 (Cable SwingEndurance Test--Draft)
　　測試環(huan)境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：導(dao)線擺動(dong)疲勞測(ce)試
　　實驗方(fang)法 : 分别将(jiang)耳機和(he)插頭固(gu)定在實(shi)驗機上(shang)，用 1N 的力， 以 180 °的角(jiao)度反複(fu)擺動耳(er)機末端(duan) 3000 次(ci)。 ( 其(qi)它造型(xing)的導線(xian)可采納(na)工程師(shi)的建議(yi)來确定(ding)循🔴環次(ci)數 )
　　檢驗标(biao)準：導線(xian)功能正(zheng)常被覆(fu)外皮不(bu)破裂。
 
1.4 表面(mian)裝飾測(ce)試 (DecorativeSurface Test)
　　測試周(zhou)期： 4 天。
　　樣品标(biao)準數量(liang)：每種顔(ya)色 6 套外殼(ke)。
　　測(ce)試流程(cheng)：
 
1.4.1. 磨(mo)擦測試(shi) (Abrasion Test -RCA)
　　測(ce)試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：印刷(shua) / 噴(pen)塗抗摩(mo)擦測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：将最終(zhong)噴樣品(pin)塗固定(ding)在 RCA 試驗機(ji)上，用 115g 力隊(dui)同一點(dian)進行摩(mo)擦試驗(yan)。每隔 50 次檢(jian)查樣品(pin)的表面(mian)噴塗。對(dui)于表面(mian)摩擦 300cycles ，側棱(leng)摩擦 150 Cycles 。特殊(shu)形狀的(de)手機摩(mo)擦點的(de)确定由(you)測試工(gong)程師和(he)設計工(gong)程師共(gong)同确定(ding)。
　　檢(jian)驗标準(zhun)：耐磨點(dian)塗層不(bu)能脫落(luo)，不可露(lu)出底材(cai)質地 ( 對于(yu)噴塗、電(dian)鍍、 IMD); 圖案或(huo)字體不(bu)能缺損(sun)、不清晰(xi) ( 對(dui)于絲印(yin)、按鍵 ) 。
 
1.4.2. 附着力(li)測試 (CoatingAdhesion Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　測(ce)試目的(de)：噴塗附(fu)着力測(ce)試
　　試驗方(fang)法：選最(zui)終噴塗(tu)的手機(ji)外殼表(biao)面，使用(yong)百格刀(dao)刻出👉 100 個 1 平方(fang)毫米的(de)方格，劃(hua)格的深(shen)度以露(lu)出底材(cai)爲止，再(zai)🥵用 3M610 号膠帶(dai)紙用力(li)粘貼在(zai)方格面(mian)， 1 分(fen)鍾後迅(xun)速以 90 度的(de)角度撕(si)脫 3 次，檢查(cha)方格面(mian)油漆是(shi)否有脫(tuo)落。
　　檢驗标(biao)準：方格(ge)面油漆(qi)脫落應(ying)小于 3% ，并且(qie)沒有滿(man)格脫落(luo)。
 
1.4.3. 汗(han)液測試(shi) (PerspirationTest)
　　測(ce)試環境(jing)： 60 oC ， 95%RH
　　測試(shi)目的：表(biao)面抗汗(han)液腐蝕(shi)能力
　　試驗(yan)方法：把(ba)濾紙放(fang)于酸性(xing) (PH=2.6) 溶(rong)液充分(fen)浸透，用(yong)膠帶将(jiang)浸有酸(suan)性溶液(ye)的濾紙(zhi)粘在樣(yang)品噴漆(qi)表面，确(que)保試紙(zhi)與樣品(pin)噴漆表(biao)面充分(fen)接觸，然(ran)後📐放在(zai)測試環(huan)境🐅中，在(zai) 24 小(xiao)時檢查(cha)一次， 48 小時(shi)後，将樣(yang)品從測(ce)試環境(jing)中取出(chu)，并且放(fang)置 2 小時後(hou)，檢查樣(yang)品表面(mian)噴漆。
　　檢驗(yan)标準：噴(pen)漆表面(mian)無變色(se)、起皮、脫(tuo)落、褪色(se)等異常(chang)。
 
1.4.4. 硬(ying)度測試(shi) (Hardness Test)
　　測(ce)試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　測試目(mu)的：表面(mian)噴塗硬(ying)度測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：用 2H 鉛筆，在(zai) 45 度(du)角下，以(yi) 1Kg 的(de)力度在(zai)樣品表(biao)面從不(bu)同的方(fang)向劃出(chu) 3~5cm 長(zhang)的線條(tiao) 3~5 條(tiao)。
　　檢(jian)驗标準(zhun)：用橡皮(pi)擦去鉛(qian)筆痕迹(ji)後，在油(you)漆表面(mian)應不留(liu)下🏃‍♂️劃痕(hen)💃🏻。
 
1.4.5. 鏡(jing)面摩擦(ca)測試 (Lens ScratchTest)
　　測試(shi)環境 : 室溫(wen) (20~25 ° C);
　　測試(shi)目的：鏡(jing)面抗劃(hua)傷測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：用 Scratch Tester 将實驗(yan)樣品固(gu)定在實(shi)驗機上(shang)，用載重(zhong) (load) 爲(wei) 500g 的(de)力在樣(yang)品表面(mian)往複劃(hua)傷 50 次。
　　檢驗标(biao)準：鏡面(mian)表面劃(hua)傷寬度(du)應不大(da)于 100 μ m( 依(yi)靠目視(shi)分辨、參(can)照缺陷(xian)限度樣(yang)闆 )
 
1.4.6 紫外線(xian)照射測(ce)試 (UV illuminantTest)
　　測試環(huan)境： 50 ° C
　　測(ce)試目的(de)：噴塗抗(kang)紫外線(xian)照射測(ce)試
　　試驗方(fang)法：在溫(wen)度爲 50 ° C ，紫外線(xian)爲 340W/mm2 的光線(xian)下直射(she)油漆表(biao)面 48 小時。試(shi)驗結束(shu)後将手(shou)機外殼(ke)取出，在(zai)常溫下(xia)冷卻 2 小時(shi)後檢查(cha)噴漆表(biao)面。
　　檢驗标(biao)準：油漆(qi)表面應(ying)無褪色(se)，變色，紋(wen)路，開裂(lie)，剝落等(deng)現象。
 
1.5.1. 低溫(wen)跌落試(shi)驗 (Low temperatureDrop Test)
　　測試環(huan)境： -10 ° C
　　樣(yang)機數量(liang) : 3 台(tai)
　　測(ce)試目的(de)：樣機低(di)溫跌落(luo)測試
　　試驗(yan)方法：将(jiang)手機進(jin)行電性(xing)能參數(shu)測試後(hou)處于開(kai)機狀态(tai)放置在(zai) -10 ° C 的低(di)溫試驗(yan)箱内 1 小時(shi)後取出(chu)，進行 1.2 米的(de) 6 個(ge)面跌落(luo)， 2 個(ge)循環，要(yao)求 3 分鍾内(nei)完成跌(die)落，方法(fa)同常溫(wen)跌落。
　　檢驗(yan)标準：手(shou)機外觀(guan)，結構，功(gong)能和電(dian)性能參(can)數符合(he)❤️要求🌈。
 
1.5.2. 扭曲(qu)測試 (Twist Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　樣(yang)機數量(liang) : 2 台(tai)
　　測(ce)試目的(de)：抗扭曲(qu)測試
　　試驗(yan)方法：将(jiang)手機處(chu)于開機(ji)狀态，固(gu)定在扭(niu)曲試驗(yan)機上🌈，用(yong) 2N m 力(li)矩反複(fu)扭曲手(shou)機 1000 次。對于(yu)滑蓋手(shou)機，應将(jiang)一半樣(yang)品滑開(kai)到上限(xian)位置。
　　檢驗(yan)标準：手(shou)機沒有(you)變形 , 外觀(guan)無異常(chang)，各項功(gong)能正常(chang)。
 
1.5.3. 坐(zuo)壓測試(shi) (Squeeze Test)
　　測(ce)試環境(jing)：室溫 (20~25 ° C);
　　樣機數(shu)量 : 2 台
　　測試目(mu)的：抗坐(zuo)壓測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：将手機(ji)處于開(kai)機狀态(tai)，放置在(zai)坐壓試(shi)驗機上(shang)，用 45Kg 力反複(fu)擠壓手(shou)機 1000 次。 對于滑(hua)蓋手機(ji)，應将一(yi)半樣品(pin)滑開到(dao)上限位(wei)置。
　　檢驗标(biao)準：手機(ji)沒有變(bian)形 , 外觀無(wu)異常，各(ge)項功能(neng)正常。
 
1.5.4. 鋼球(qiu)跌落測(ce)試 (Ball Drop Test)
　　測試環(huan)境：室溫(wen) (20~25 ° C);100g 鋼球(qiu)。
　　樣(yang)機數量(liang) : 2 台(tai)
　　測(ce)試目的(de)：鏡蓋強(qiang)度測試(shi)
　　試(shi)驗方法(fa)：鏡蓋表(biao)面：用 100g 鋼球(qiu)，從 20cm 高處，以(yi)初速度(du)爲 0 的狀态(tai)，垂直打(da)擊鏡蓋(gai)表面。
　　檢驗(yan)标準：手(shou)機鏡蓋(gai)無變形(xing)，無裂縫(feng)，無破損(sun) ( 允(yun)許有白(bai)點 ) ， LCD 功(gong)能正常(chang)。
 
1.6 其(qi)他條件(jian)測試
　　樣品(pin)标準數(shu)量： 5 台。
　　測試周(zhou)期： 1 天。
　　測試流(liu)程 :
　　測試标(biao)準：
 
1.6.1 螺釘的(de)測試 (Screw Test)
　　測試(shi)環境：室(shi)溫 (20~25 ° C);
　　樣(yang)機數量(liang) : 3 台(tai)
　　測(ce)試目的(de)：螺釘拆(chai)裝疲勞(lao)測試
　　試驗(yan)方法：将(jiang)手機平(ping)放在試(shi)驗台上(shang)用允許(xu)的最大(da)扭矩 ( 由設(she)計工程(cheng)師和生(sheng)産工程(cheng)師提供(gong) ), 對(dui)同一螺(luo)釘在同(tong)一位置(zhi)反複旋(xuan)動螺釘(ding) 10 次(ci) .
　　檢(jian)驗标準(zhun)：試驗中(zhong)和完成(cheng)後 , 螺紋沒(mei)有變形(xing) , 損(sun)壞 , 滑絲 , 用肉(rou)眼觀察(cha)沒有裂(lie)紋 ; INSERT 不能有(you)明顯的(de)松動 , 劃絲(si) ; 螺(luo)釘口 ( 包括(kuo)機械和(he)自攻螺(luo)釘 ) 不能有(you)明顯的(de)松動 , 劃絲(si)
 
1.6.2 挂(gua)繩孔強(qiang)度的測(ce)試 (Hand StrapTest)
　　測試環(huan)境：室溫(wen) (20~25 ° C);
　　樣機(ji)數量 : 2 台
　　測試(shi)目的：挂(gua)繩孔結(jie)構強度(du)測試
　　試驗(yan)方法：将(jiang)挂繩穿(chuan)過挂繩(sheng)孔并以(yi) 2 圈(quan) / 秒(miao)的速率(lü)在垂直(zhi)的平面(mian)内轉動(dong) 100 圈(quan) ,
　　然(ran)後用拉(la)力計以(yi)持續不(bu)斷的力(li)拉手機(ji)的挂繩(sheng) .
　　檢(jian)驗标準(zhun)：手機的(de)挂繩能(neng)容易的(de)穿過挂(gua)繩孔 ( 不借(jie)助于特(te)殊的工(gong)具 ); 轉動手(shou)機時 , 挂繩(sheng) 孔(kong)不能被(bei)損壞 ; 挂繩(sheng)孔的破(po)壞力不(bu)能小于(yu) 12kgf(111N)

　　可(ke)靠性是(shi)指産品(pin)在規定(ding)的條件(jian)下、在規(gui)定的時(shi)間内完(wan)成規定(ding)的功能(neng)的能力(li)。産品在(zai)設計、應(ying)用過程(cheng)中，不斷(duan)經受自(zi)身及外(wai)界氣候(hou)環境及(ji)機械環(huan)境的影(ying)響，而仍(reng)需要能(neng)夠正常(chang)工作，這(zhe)就需要(yao)以試驗(yan)設備對(dui)其進行(hang)驗證，這(zhe)個驗證(zheng)基本分(fen)爲研發(fa)試驗、試(shi)産試驗(yan)、量産抽(chou)檢三個(ge)部♈分。

1 、其中(zhong)氣候環(huan)境包含(han)：高溫、低(di)溫、高低(di)溫交變(bian)、高溫高(gao)濕、低溫(wen)低濕、快(kuai)速溫度(du)變化、溫(wen)度沖擊(ji)、高壓蒸(zheng)煮 (HAST) 、溫升測(ce)試、鹽霧(wu)腐蝕 ( 中性(xing)鹽霧、銅(tong)加速乙(yi)酸、交變(bian)鹽霧 ) 、人工(gong)汗液、氣(qi)體腐蝕(shi) (SO2/H2S/HO2/CL2) 、耐(nai)焊接熱(re)，沾錫性(xing)，防塵等(deng)級測試(shi) (IP1X-6X) ，防(fang)水等級(ji)測試 (IPX1-X8) 、阻燃(ran)測試， UV 老化(hua) ( 熒(ying)光紫外(wai)燈 ) 、太陽輻(fu)射 ( 氙燈老(lao)化、鹵素(su)燈 ) 等等 ;

2 、其中(zhong)機械環(huan)境包含(han)：振動 ( 随機(ji)振動，正(zheng)弦振動(dong) ) 、機(ji)械沖擊(ji)、機械碰(peng)撞、跌落(luo)、斜面沖(chong)擊，溫濕(shi)度 振動三(san)綜合、高(gao)加速壽(shou)命測試(shi) (HALT) 、高(gao)加速應(ying)力篩選(xuan) (HASS 、 HASA) 、插拔(ba)力，保持(chi)力，插拔(ba)壽命，按(an)鍵壽命(ming)測試、搖(yao)擺試驗(yan)、耐🏒磨測(ce)試、附着(zhe)力測試(shi)、百格測(ce)試等。